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二維過渡金屬二硫化物的鹽輔助化學氣相沉積前言近年來科技的快速發展,加上人工智能、物聯網和大資料分析的出現,導緻對具有高計

作者:九鼎鑒史

二維過渡金屬二硫化物的鹽輔助化學氣相沉積

前言

近年來科技的快速發展,加上人工智能、物聯網和大資料分析的出現,導緻對具有高計算能力和速度的處理器的需求極高,傳統的三維 (3D) 矽半導體制造技術正在快速接近 2 納米技術節點的實體和工藝極限,這将阻礙目前矽半導體制造技術的進一步發展,并阻止進一步縮小,是以,必須探索具有納米或亞納米級特征尺寸的新材料。

二維 TMDC 的鹵化物鹽輔助 CVD (HSA-CVD) 的生長機制

正常化學氣相沉積

用于生長 2D TMDC(例如,MoS 2 )的傳統 CVD 裝置如圖 1A所示,在 CVD 工藝中,包含過渡金屬氧化物 (TMO) 粉末和生長基闆的坩埚被裝載在高溫中心,硫族元素粉末在低溫區上遊裝載,CVD 生長的 MoS 2于 2012 年首次通過 (NH 4 ) 2 MoS 4的分解以及 Mo 膜和 MoO 3的硫化分别得到證明。

鹵素在 HSA-CVD 中的作用

為了使二維 TMDC 在溫和條件下的 CVD 生長, 2015 年首次通過使用堿金屬鹵化物作為生長促進劑證明了大型 WSe 2和 WS 2單層的生長(通過将氧化鎢(WO 2.9,1473 °C)與鹵化物鹽(A X,A  = Na,K;X  = Cl,Br,I)混合,WSe 2和 WS 2單分子層可以在大氣壓和顯着更低的溫度下生長700°C,比僅使用氧化鎢的相同工藝低 100°C 以上。

堿金屬在 HSA-CVD 中的作用

堿金屬(Li、Na、K)是堿金屬鹵化物鹽的重要組成部分,在 2D TMDC 的 SA-CVD 生長中其行為與鹵素完全不同,是以,可以在掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)的内部和外部區域的對比,為了排除硫屬元素的影響,通過熔鹽(分别為 Na 2 MoO 4 和 Na 2 WO 4 )的簡單硫化、硒化和碲化,證明了基于 Mo 和W的2D TMDC的VLS生長。

二維材料生長的多功能性

HSA-CVD 最令人印象深刻的成就是它可用于生長 47 種不同類型的二維材料,包括 32 種二進制金屬硫族化物、MX 2和 MX(M = Mo、W、Re、Ti、Zr、 Hf、V、Nb、Ta、Pt、Pd、Fe;X=S、Se、Te),13種三元和四元合金,2種異質結 Ta 和 Re 等純金屬也可以直接與 NaCl 或 KI 混合,以生長 Ta 和 Re 基二維 TMDC。

HSA-CVD更新(Salt 1.0+技術)

盡管有許多優點,HSA-CVD(Salt 1.0 技術)也有很多缺點,一個嚴重的問題是生長室中過渡金屬 (TM) 前體的蒸汽過多且不均勻,是以 2D TMDC 的生長強烈依賴于基闆的位置。

熔鹽CVD(Salt 2.0技術)的應用

與具有複雜 VSS 和 VLS 生長模式的 Salt 1.0 技術相比,Salt 2.0 技術使用熔鹽在 VLS 模式下生長 2D TMDC,為保證 Salt 2.0 技術的成功,熔鹽必須滿足三個主要标準:(1) 相當高的熔點;(2) 能夠在 CVD 生長溫度下形成具有低蒸氣壓的穩定熔體;(3) 可溶于 H2O ,前兩個标準確定 2D TMDCs 的 VLS 生長。

堿金屬——一枚硬币的兩面

無論使用何種技術,堿金屬都是促進二維 TMDC 橫向生長不可或缺的組成部分,許多基于堿金屬的化學品,例如 NaOH、KOH、Na 2 SO 4、KH 2 PO 4、Na 2 CO 3、KNO 3、CH 3 COONa、C 6 H 5 O 7 Na 3、PTAS、EDTA-4Na 等., 可用于增強 2D TMDC 的 CVD 生長。

結論

由于 SA-CVD 的快速發展,近年來合成了種類繁多的二維材料,鹵素和堿金屬在促進 2D TMDC 生長中的作用,通常,鹵素會增加具有高熔點的金屬前體的揮發性,進而引發 VSS 的快速生長。

二維過渡金屬二硫化物的鹽輔助化學氣相沉積前言近年來科技的快速發展,加上人工智能、物聯網和大資料分析的出現,導緻對具有高計
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