CT僞影始終是制約分析、資料處理、可靠性以及準确度的重大難題。毋庸置疑，僞影的種類繁多，像是射線硬化、多材料、散射或者環狀等均在其列。今日，要與諸位分享的乃是鋁壓鑄行業裡最為常見的散射僞影。即便是單一材料的鋁壓鑄産品，通常也難逃散射僞影的影響。特别是在新能源汽車的零部件産品中，當壓鑄件的結構與尺寸愈發增大之際，散射僞影給工藝改進、分析以及量産檢測造成諸多困擾；而且從業人員有時還會誤将這一僞影視作是射線硬化所導緻。
散射和射線硬化僞影的差別：
射線硬化是由于射線無法穿透被測物所導緻的一種僞影，原本應是線性變化的灰階值發生了混亂所導緻的。
X射線光子具有不同的能量範圍，例如自30至230keV 。如光子沿穿透方向能量衰減不同，則比爾-朗伯定律基于測量X射線強度将不足以确定穿透長度。
相對于射線硬化僞影，尤其在鋁制的産品中經常會看到這樣的成像效果（霧狀包裹在物體表面的散射僞影：
我們稱之為“康普頓散射”，或稱康普頓效應（英語：Compton effect），是指當X射線或伽馬射線的光子跟物質互相作用，因失去能量而導緻波長變長的現象。（源自：Compton scattering - Wikipedia）當然這一現象在自然界中無處不在，也是因為這一現象，我們看到的天空是藍色。
CT掃描過程中，散射僞影帶來了什麼？
大家都希望了解在 X 射線的運用裡，散射現象給我們的掃描品質造成的影響究竟如何。我們以 100mm 鋁塊作為被測對象，并采用大于 225kV 的 X 射線源進行實驗。在射線源産生的光子當中，約 8%的光子能夠毫無互相作用地完美穿透材料（無互相作用 NI）。其中 46%被吸收（光電效應 PE），其餘的則被散射（C -康普頓效應 39%）。這意味着散射效應（康普頓散射）于模拟實驗中對掃描成像有着頗為顯著的影響。當然，這也很好地解釋了為何在我們掃描大型鋁壓鑄件時，所得到的圖像品質可能會較差（相較于小型産品而言）。
于是，在第二個實驗裡，我們将塑膠（其密度低于鋁）當作被測對象。此次，我們借助兩個不同電壓的 X 射線來驗證這一現象，分别運用 225kV 和 320kV 的裝置對厚度大于 230mm 的塑膠測試件展開測試（選用密度較低的被測物，也是為了盡可能排除射線硬化的幹擾）。
下面的圖檔呈現了一個體積較大的塑膠部件的比較情況。左圖為 320kV 和 3mm Sn 濾片的掃描圖，右圖是 200kV 和 1mm Cu 濾片的掃描圖。兩張圖檔的結果近乎完全相同，不均勻的灰值并非由電壓缺乏穿透所緻，而是由散射造成的，即便在高能量狀态下，散射也幾乎相等。這一結論同樣适用于鋁材料或類似密度的部件，多數時候并非電壓的問題，而是散射的光子，依據康普頓效應，它們同樣是以高能量散射的。