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2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check

2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check

這是一個簡單的腳本，讀design  （綜合後），讀library ，加時鐘

design check       開始 做scan     寫兩個檔案給ATPG用

2.問題來了如果design裡面既有 posedeg  clk   又有negedge clk  ，那麼該如何做scan ，使用上面的腳本還行嗎

實際上當然不行，那麼該怎麼改tcl 

2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check

這是design  ，實際做完scan 之後 為

2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check

可以看出先串的下降沿再串的上升沿。為什麼會這樣

2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check

先看shift 過程 positive 到negative會有問題

再看capture過程，同樣positive 到negative會有問題

2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check

腳本需要加入

添加Set_scan_configuration -clock_mixing  mix_edges 

對于有clock domain crossing  , 上升沿和下降沿  需要 mix_edges 

2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check

3 。對于multiple clock  domain     我們又該如何處理

2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check

第2種可能出現問題（頻率一樣，相位不一樣）

2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check

這個時候我們添加 lockup cell  相當于添加資料的保持時間

注意這裡添加的位置   .

4 。scan相關信号  主要是要注意第四個

2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check

5. 做scan的時候我們首先需要進行 scan  rule check 

如果失敗 ，兩種方法   該rtl    或者 利用工具  autofix

2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check
2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check

常見的兩種錯誤  這個時候怎麼利用工具  autofix 呢

2. DFT 入門篇-scan chain—design rule check

時鐘問題tcl  中加入這些    複位問題 留給大家自己思考

DFT
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