型号： Zeiss supra55
适用領域
高分子材料、精細化工、生物化學、藥物化學等有機化合物和部分無機化合物的結構分析
主要技術名額：
分辨率：1.0nm @ 15kV
1.7nm @ 1kV 4.0nm @ 0.1kV
放大倍數：12 ~ 900,000x 加速電壓：
0.1 ~ 30kV
樣品要求
1)薄膜樣品：直徑小于12 mm，高度小于3 mm，要求樣品上下表面平整，高低起伏小于1μm，如尺寸超過範圍需收取相應加工費
2) 液體樣品：請配好膠體溶液，保證樣品均勻分散，要求無沉積，溶液澄清透明。樣品如需超聲或稀釋請事先說明，稀釋請提供相應的溶劑（去離子水除外），并說明稀釋倍數。液體樣品一般塗到新鮮解離的雲母片上，如樣品在雲母片上吸附不好，請客戶自行将樣品塗到其他底材上（如矽片）進行測樣；
3) 固體粉末樣品：由于AFM是盲掃，對樣品的分散性要求非常高，是以最好是以液體的形式進行測試。固體粉末樣品一般隻适合溶解性或分散性較好的樣品，通常提供不超過30 min的超聲預處理，溶劑由客戶提供（去離子水除外），并由客戶提供詳細的制樣條件
4)生物樣品：蛋白、細胞及DNA等樣品，請提供詳細的制樣過程，由于溶液中含有鹽，是以請調好濃度，減少鹽對測試結果的影響
5)由于樣品分布的不均勻性，請客戶提供樣品的SEM或TEM圖，或者提供參考文獻中AFM的效果圖，以提高結果的準确性
備注：請客戶提供樣品的成分資訊，如樣品具有腐蝕性、傳染性等危害，請在寄樣前确認能否測量，并提供相應的防護措施
測試效果案例：
廣州化聯質檢測試項目：