型号： Zeiss supra55
适用领域
高分子材料、精细化工、生物化学、药物化学等有机化合物和部分无机化合物的结构分析
主要技术指标：
分辨率：1.0nm @ 15kV
1.7nm @ 1kV 4.0nm @ 0.1kV
放大倍数：12 ~ 900,000x 加速电压：
0.1 ~ 30kV
样品要求
1)薄膜样品：直径小于12 mm，高度小于3 mm，要求样品上下表面平整，高低起伏小于1μm，如尺寸超过范围需收取相应加工费
2) 液体样品：请配好胶体溶液，保证样品均匀分散，要求无沉积，溶液澄清透明。样品如需超声或稀释请事先说明，稀释请提供相应的溶剂（去离子水除外），并说明稀释倍数。液体样品一般涂到新鲜解离的云母片上，如样品在云母片上吸附不好，请客户自行将样品涂到其他底材上（如硅片）进行测样；
3) 固体粉末样品：由于AFM是盲扫，对样品的分散性要求非常高，因此最好是以液体的形式进行测试。固体粉末样品一般只适合溶解性或分散性较好的样品，通常提供不超过30 min的超声预处理，溶剂由客户提供（去离子水除外），并由客户提供详细的制样条件
4)生物样品：蛋白、细胞及DNA等样品，请提供详细的制样过程，由于溶液中含有盐，因此请调好浓度，减少盐对测试结果的影响
5)由于样品分布的不均匀性，请客户提供样品的SEM或TEM图，或者提供参考文献中AFM的效果图，以提高结果的准确性
备注：请客户提供样品的成分信息，如样品具有腐蚀性、传染性等危害，请在寄样前确认能否测量，并提供相应的防护措施
测试效果案例：
广州化联质检测试项目：