连续两个周末去客户的工厂协助处理控制器的问题，收获了以下成果，
1) 经过分析，发现使用的通过光耦设计的过零检测电路抗干扰能力比较差，应该改用我设计的强抗干扰能力的过零检测电路
2) 可控硅触发驱动电路，在上电过程中，由于+5.0V的电压迟于+24.0V电压，产生异常脉冲，导致可控硅误触发，有严重的安全隐患
3)精确计算并实测过零信号脉宽、相移等，据此计算最大、最小导通角，确定导通角延时的限定值以及触发脉冲的时长等，严格避免了触发脉冲错到下一个半波，导致可控硅全导通的情况。
4) 只有采用硬件微分电路的针对电流和电压的闪络检测算法，没有可靠的软件闪络检测算法，存在检测不到闪络或者误检测到闪络的情况。
我将软件闪络检测算法移植TMS320F28335平台，在ADC中断中计算半个周期的二次电流、二次电压的积分值和微分值，在定时器中断即将使能PWM输出可控硅触发脉冲串之前判断闪络，有以下机制：
a. 根据二次电流、二次电压的微分值与额定值比较，判断是否发生闪络；
b. 根据前8个半波的数值由最小二乘法算法基准值，将二次电流、二次电压的积分值与基准值比cc.较，判断是否发生闪络；
c. 检测硬件微分检测电路所连接的IO口的边沿跳变标志，如果标志置位，说明二次电流或二次电压发生了突变，可能发生闪络，根据ADC中断中最高检测的电压值判断是否发生闪络；
通过硬件+软件，电流+电流，积分+微分的强有力的组合判断，实现了闪络的及时判断以及保护，又大大提高了检测的可靠性，避免了误码，从而提高了除尘效率，降低了能耗。
4) 发现了在定时器中断中即使开启了PWM，10kHz,50%的触发脉冲串依然需要再过100us才由IO口输出的问题，改成以下的代码之后，PWM立即通过IO口输出。
EPwm1Regs.AQSFRC.bit.RLDCSF = 3;//绕过影子寄存器直接从CPU加载，IO口立即输出PWM
EPwm1Regs.AQCSFRC.bit.CSFA = AQ_NO_ACTION;
EPwm1Regs.TBCTR = (EPWM1_TBPRD - 2);
EPwm1Regs.TBPRD = EPWM1_TBPRD;
EPwm1Regs.CMPA.half.CMPA = EPWM1_CMPA;
EPwm1Regs.TBCTL.bit.PRDLD = TB_IMMEDIATE; // load immediate
在整改过程中，也碰到一些问题：
比如，CPUTimer产生中断之后，在停止之前，自动加载PRD到TMR寄存器，导致产生中断缓存到PIE，影响了通过CPUTimer输出触发脉冲串；
通过清零PIEIFR寄存器清除CPUTimer自动加载产生的中断，由于该操作不是原子位操作，会把ADC完成中断也同时清除，导致ADC不能产生中断；
