圖像預處理：
上面是圖像處理的基本流程，分别為待檢測的圖檔。
預處理步驟一：
首先做灰階處理：
然後做如果是清晰的照片，那麼可以自動加入噪聲進行檢測系統的濾波效果，如果輸入的照片本身是帶噪聲的，那麼就不用再次加入噪聲了。
對于濾波後的圖像進行二值化處理，最後對二值化處理後的效果進行平滑處理。
預處理步驟二：
由于圖檔中的照片中存在白色的遮擋的區域，這個會對圖檔的處理造成錯誤識别，是以需要對其進行處理，
得到單純為晶片管腳的圖檔。
缺陷檢測：
首先需要對晶片的管腳進行定位：
上圖中紅色的部分為晶片的照片管腳的定位，右圖為二值化圖的管腳的定位。
缺陷檢測，對每個定位點對應的白色區域進行識别，得到缺陷檢測效果：
這個錯誤的就會顯示錯誤的方框，這個晶片有兩個錯誤，這裡就會顯示了。
系統會自動提示晶片的缺陷。
具體的缺陷方法為：
步驟一：這裡是将晶片存在的較大的陰影區域消除，
=>
這樣就會避免晶片檢測的時候錯誤。
步驟二：将晶片的臨近的區域合并，提供檢測的精度
具體如下的效果：
變為：
這樣可以提高臨近區域。
步驟三：這裡是将晶片存在的較小的區域消除，進一步提高檢測效果
将視覺處理過程中，一些較小的區域去掉。
步驟四：從代碼的146行到216行，就是将晶片的管腳進行定位。
基本思路如下：
通過求圖檔中的聯通區域，得到參數L和n，其中n為聯通區域的個數：
這個代碼為定位點的确定。
步驟五：計算每個定位點下面的面積
這裡是func_detect是面積檢測函數，計算面積。
這個代碼為判斷是否為缺陷部分，
通過參數errors進行檢測。參數errors需要不斷的調整。
代碼注意點：
·這個代碼有如下幾個參數：
這裡對于不同的光線效果，得修改bw_para參數。
對于不同大小的圖檔，AERAMAX需要調整。
對于不同款式的圖檔，需要修改errors參數。
·為了提高識别的精度，最好是直接對晶片的附近的區域進行檢測，不要整闆的檢測。
·系統隻使用同一環境下的同一信号的晶片的流水線檢測，改進晶片，需要重新設定參數。
·為了達到最好的效果，我們這裡給出了幾個測試樣本對應的參數設定：
圖檔一，errors值為1500 . bw_para值為90
圖檔二，errors值為700 . bw_para值為90
圖檔三，errors值為500. bw_para值為120
圖檔四，errors值為500. bw_para值為120
圖檔五，errors值為500. bw_para值為120
圖檔六，errors值為1000.bw_para值為180
圖檔七，errors值為70.bw_para值為150（圖檔比較小，是以errors值小）
圖檔八，errors值為2500.bw_para值為170
圖檔九，errors值為2500.bw_para值為200
這裡給你總結了九個圖檔，每個圖檔都是不同的大小和光效，你可以根據這裡的參數變換，設定合适的參數。
在實際中，對于同一個生産線上，光照一般是固定的，檢測的産品也一定是同一款晶片的産品的流水線檢測，是以設定好一組參數及可。