定義1
設 E \mathscr E E是 X X X上的集合系且 ∅ ∈ E \emptyset \in \mathscr E ∅∈E,若 E \mathscr E E上的非負集函數(取值大于等于0的函數) μ \mu μ具有可列可加性,并滿足 μ ( ∅ ) = 0 \mu(\emptyset)=0 μ(∅)=0,則稱之為 E \mathscr E E上的測度。
\space
有限性、可減性:
若對集合系中的每個集合,其函數值都有限,則稱測度 μ \mu μ有限。若對每個 A ∈ E A\in \mathscr E A∈E都有滿足 μ ( A n ) < ∞ \mu(A_n)<\infty μ(An)<∞集合列 { A n ∈ E } \{A_n \in \mathscr E\} {An∈E}滿足可列并包含集合A( ∪ n = 1 ∞ A n ⊃ A \cup_{n=1}^\infty A_n\supset A ∪n=1∞An⊃A),則稱則稱測度 μ σ \mu \space \space \sigma μ σ有限。
如果對任何 A , B ∈ E , A ⊂ B , B \ A ∈ E A,B\in \mathscr E,A\subset B ,B\backslash A \in \mathscr E A,B∈E,A⊂B,B\A∈E,隻要 μ ( A ) < ∞ \mu (A)<\infty μ(A)<∞,有
μ ( B \ A ) = μ ( B ) − μ ( A ) \mu(B \backslash A)=\mu(B)-\mu(A) μ(B\A)=μ(B)−μ(A)
則稱 μ \mu μ具有可減性。
命題1
測度具有有限可加性與可減性。
(想象面積的運算,或者機率的運算)
\space
定義2 點測度
定義 δ x ( A ) = I A ( x ) \delta_x(A)=I_A(x) δx(A)=IA(x).
其中I是訓示函數。若 x 1 , … , x n ∈ X x_1,\dots ,x_n\in X x1,…,xn∈X,定義
μ ( A ) = ∑ i = 1 n δ x i ( A ) \mu(A)=\sum_{i=1}^{n}\delta_{x_i}(A) μ(A)=i=1∑nδxi(A)此即點測度。
\space
命題2
設 X = R X=\mathbf R X=R, E \mathscr E E是由左開右閉區間組成的半環, F F F是非降、右連續、實值函數,定義
μ ( ( a , b ] ) = [ F ( b ) − F ( a ) ] u ( b − a ) \mu((a,b])=[F(b)-F(a)]u(b-a) μ((a,b])=[F(b)−F(a)]u(b−a)
(不會打分段函數… u ( x ) u(x) u(x)就是 x ≥ 0 x\ge0 x≥0時為1)
則 μ \mu μ就是一個 E \mathscr E E上的測度。
\space
一堆概念
空間 X X X,加上由它的子集形成的一個 σ \sigma σ域 F \mathscr F F,再加上上的一個測度 μ μ μ,形成的三元組 ( X , F , μ ) (X,\mathscr F,\mu) (X,F,μ)稱為測度空間.如果 N ∈ F N\in\mathscr F N∈F而且 μ ( N ) = 0 \mu(N)=0 μ(N)=0,則稱 N N N為 μ \mu μ的零測集.
如果測度空間 ( X , F , μ ) (X,\mathscr F,\mu) (X,F,μ)滿足 P ( X ) = 1 P(X)=1 P(X)=1,則稱它為機率空間,對應的 P P P叫做機率測度.在機率空間 ( X , F , μ ) (X,\mathscr F,\mu) (X,F,μ)中, F \mathscr F F中的集合 A A A又稱為事件,而 P ( A ) P(A) P(A)稱為事件 A A A發生的機率.
(這裡想到上學期随機信号開頭講的機率空間的概念,當時講的F是事件空間,其實就是一個X上的 σ \sigma σ域。在這裡取其所有子集的集合,是具有實際意義的。)
\space
半環上測度的性質
在一般的 σ \sigma σ域上建立測度則要複雜得多,通常使用的辦法是把半環上的測度擴張到由它生成的 σ \sigma σ域上去。為給半環上測度的擴張作必要的準備,需要先讨論半環上非負集函數的性質。
-
單調性:
對 ∀ A ⊂ B : μ ( A ) < μ ( B ) \forall A\subset B:\mu(A)<\mu(B) ∀A⊂B:μ(A)<μ(B)
-
半可列可加性:
之前說的可列可加性是對于兩兩不交的集合而言,而對于任意可列個集合,隻要 ∪ n A n ∈ E \cup_{n}A_n \in \mathscr E ∪nAn∈E,就一定有: μ ( ∪ n A n ) ≤ ∑ n μ ( A n ) \mu(\cup_{n}A_n)\le\sum_{n}\mu(A_n) μ(∪nAn)≤∑nμ(An)
(該性質也可直覺地通過幾何來了解,例如兩個相交的圖形,其構成的總面積肯定小于等于各自面積之和)
-
下連續與上連續
若集合列 A n ↑ A_n \uparrow An↑且收斂到 A A A,均有:
μ ( A ) = lim n → ∞ μ ( A n ) \mu(A)=\lim_{n\to\infty}\mu(A_n) μ(A)=limn→∞μ(An)
則稱具有下連續性。
同理,若集合列 A n ↓ A_n \downarrow An↓且收斂到 A A A,均有上式成立,則上連續。
定理3
半環上的測度具有單調性,可減性,半可列可加性,下連續性和上連續性.
定理4
對環上的有限可加非負集函數 μ \mu μ,有
μ 可 列 可 加 ⇔ μ 半 可 列 可 加 ⇔ μ 下 連 續 ⇒ μ 上 連 續 \mu可列可加\\ \Leftrightarrow \mu半可列可加\\ \Leftrightarrow \mu下連續\\ \Rightarrow \mu上連續 μ可列可加⇔μ半可列可加⇔μ下連續⇒μ上連續