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图像传感器的主要光电参数有哪些?

图像传感器可将光信号转化为电信号,其光电参数直接决定了成像质量,是所有成像设备中的核心关键器件。图像传感器分为 CCD器件和CMOS 器件。CMOS图像传感器在帧频、集成度、可靠性、功耗和成本等方面优势明显。随着 CMOS 技术的不断进步,CMOS 图像传感器的成像性能已接近或超越 CCD 器件,在高端工业、医疗、和科研应用中逐步取代 CCD,成为主流图像传感技术。

无论是 CMOS 或 CCD 图像传感器,其光电参数都可依据业界成熟的 EMVA1288 标准进行评价。

图像传感器的主要光电参数

CMOS 和 CCD 图像传感器的性能指标可分为光学指标和电学指标,而其成像质量主要取决于以下光学指标:

分辨率及像元尺寸(Resolution and Pixel size)

快门类型(Shutter Type)

量子效率(Quantum Efficiency, QE)

灵敏度(Sensitivity)

暗噪声(Dark Noise)

满阱容量(Full Well Capacity, FWC)

动态范围(Dynamic Range, DR)

暗电流(Dark Current, DC)

除上述光学指标外,图像传感器的电学指标,如帧频、功耗、输出格式及数据率也是设计成像系统时需要考虑的重要指标。

1、分辨率及像元尺寸

像传感器的感光区是由多个像元排列的一维或二维矩阵,其中像元(或像素)为单个感光单元。图像传感器的分辨率通常由该矩阵的横纵方向的像元数表示,如 1920 x 1080,或由其乘积表示,如 2 百万分辨率(2MP)。

元尺寸为每个像元的物理尺寸,即相邻像元中心的间距。像元尺寸越大,能收集到的光子数越多,芯片灵敏度越高,意味着在同样的光照条件下和曝光时间内,芯片能收集到的有效信号越多。在光强可控的工业应用中,像元尺寸一般在 4.5-6.5 微米之间;而在微光应用中,像元尺寸多在 10 微米到 24 微米之间,以保证足够的灵敏度,提升图像信噪比;在 X射线成像应用中,多采用 10-16 微米的像元,可有效降低所需射线剂量,减少对人体不必要的辐射。同时,像元尺寸越大,满阱越高、动态范围越大,图像传感器的成像性能越好。然而在相同分辨率下,像元尺寸越大,芯片面积越大,芯片的成本和价格也会随着像元尺寸成平方关系增长。

图像传感器的光学尺寸(Optical Format)是指图像传感器感光区域对角线的长度,一般用英寸表示。由于几乎所有的工业镜头都按照传感器的光学尺寸来进行分类,它是图像传感器最常用的指标之一。由于历史原因,1”图像传感器的对角线长度为 16 毫米(而不是我们一般认为的 25.4 毫米)。例如,主流工业应用的图像传感器为 2/3”,其感光区域对角线长度为 10.7mm。

2、 快门类型

MOS 图像传感器片上集成电子快门,根据像素设计的不同,分为全局快门和卷帘快门。使用全局快门芯片时,所有像素同时开始曝光并同时结束,可捕捉高速运动物体的瞬时状态。

2.1全局快门:在全局快门像素设计中,每个像素中必须集成一个信号存储单元。当曝光结束后,每个像素将其所捕捉的信号转移至各自的存储单元中,然后逐行读出。

于在像素内集成存储单元需要相对复杂的电路结构,降低了像素内有效感光面积,因此全局快门 CMOS 图像传感器一般噪声较高、灵敏度和动态范围较低,如 Sony IMX174 的读出噪声为 7 个电子,CMOSIS 的 CMV 系列读出噪声为 13 个电子。

2.2卷帘快门:和全局快门不同,卷帘快门的每行像素开始曝光和截止曝光是在不同时间点发生的,但是所有像素的实际曝光时间是相等的。因卷帘快门像素内没有存储单元,曝光结束后,信号必须被马上读出。因为传感器无法在同一时刻读出所有行的信号,因此曝光须逐行停止、逐行读出。为了保证每行像素的曝光时间相同,因此每行的开始曝光时间也需要顺移。

2.2.1卷帘快门的工作模式如下图所示:

图像传感器的主要光电参数有哪些?

2.2.2卷帘快门工作原理

因无需存储单元,卷帘快门像素设计相对简单,可以最大程度优化有效感光面积,提升传感器的灵敏度,降低噪声。比如 BAE Systems、滨松和长光辰芯光电的 sCMOS 传感器在卷帘快门模式下暗噪声都小于 2 个电子。

是否可以使用卷帘快门对移动物体成像一直是比较有争议的话题,我们认为应根据具体应用参数评估,如物体相对移动速度、该运动物体在焦平面上的大小和曝光时间等。运动速度越快,在焦平面上的像越大,对全局快门传感器的需求越明确,如高速工业检测、汽车碰撞试验、爆炸分析、航空测绘等。反之,如使用卷帘快门芯片,在拟采用曝光时间内物体在焦平面上的扭曲可忽略或可矫正,则应采用卷帘快门芯片,以获得更高的灵敏度和更低暗噪声,提升图像质量。

备注:

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