【Nature Nanotechnology：瑞利散射圓二色譜對單個碳納米管的完整結構表征】無創、高通量光譜技術可以識别低至單管水準的碳納米管的手性指數（n，m）。然而，為了完整地表征和解鎖全部功能，還需要準确和有效地識别不對稱性，即與鏡像對稱破壞相關的結構特性。到目前為止，由于與激發光相比極弱的手性光信号（大約10−7），光學方法不能表征單個納米管的不對稱性。在這裡，作者通過瑞利散射圓二色譜實作了單納米管在手性指數和不對稱性的完整結構識别。本方法基于以斜角收集的瑞利散射的無背景特征，與傳統的吸收圓二色譜相比，這增強了三到四個數量級的納米管手性光信号。作者測量了總共30個單壁碳納米管，包括半導體納米管和金屬納米管，發現它們的手性光信号顯示出明顯的結構依賴性，這可以通過緊束縛計算定性地了解。此政策能夠探索單納米管的不對稱性相關功能，并為單個納米材料的手性辨識和手性器件探索提供了一個簡單的平台。
來源：Yao, F., Yu, W., Liu, C. et al. Complete structural characterization of single carbon nanotubes by Rayleigh scattering circular dichroism. Nat. Nanotechnol. 16, 1073–1078 (2021)，DOI：10.1038/s41565-021-00953-w#科學##實體##碳納米管##碳#
