我們知道，從實驗室一直到晶圓廠，吉時利不斷向半導體市場推出新一代半導體測試儀。提供業内經濟的全自動晶體參數測試儀，更高測試吞吐量的參數分析儀，縮短産品研發周期，能夠測試更多的功率器件類型，并提供全面的半導體器件測試和分析軟體。
下面介紹半導體檢定系統的主要名額：
一，參數測試系統
半導體參數測試系統是針對半導體工藝控制，可靠性監測和器件特性測量中常用的DC和C-V測量而設計的，廣泛用于實驗室級器件開發，到量産的各種測試環境。
二，特性測量軟體
特性測量軟體自動對器件級，單片晶圓以及整批晶圓進行半導體器件特性測量，在與源測量單元或內建測試系統結合使用時，可以填補實驗室級測試與量産級測試間不同需求空白。
三，參數分析儀
參數分析儀涵蓋了各種參數測試需求，從基本的DC I-V和C-V掃描到進階超快速I-V、瞬态信号和波形捕獲。
四，曲線追蹤儀
為功率器件特性測量提供完整的解決方案，配備各種高性能儀器，電纜，測試夾具和軟體。
Keithley 4200A-SCS ：參數分析儀，适用于材料、工藝和半導體器件特性表征的全面綜合解決方案。
測試典型器件：與CMOS有關的器件和材料，非易失性存儲器，MEMS，III-V器件，TFTs，太陽能電池，納米器件、結構
應用：半導體器件特性測量，材料研究，器件可靠性和故障分析
測量功能：I-V ,C-V,超快速I-V脈沖
Keithley 2600-PCT參數波形記錄儀：參數曲線追蹤儀，不同配置對應不同功率器件測試需求
測試典型器件：半導體元器件，包括IGBTs，MOSFETs，BJTs，二極管，其他功率控制器件
應用：半導體元器件特性測量，監測和故障分析
測量功能：低功率I-V，高功率I-V和C-V
Keithley S530/540參數化測試系統,自動化參數測試系統，可以測試最高3KV的電壓
測試典型器件：SIC，GaN及其他高壓半導體器件和結構
應用：自動分析，工藝內建，工藝控制監測，生産晶片分揀
測量功能：I-V和C-V頻率和脈沖，最高3KV，2端和3端電容測量
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