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Bi2O2Se铁电半导体中电可切换的极化研究背景在以数据为中心的驱动下,高集成度的铁电电子元件被认为是半导体电子的前沿,

作者:卡比獸papa

Bi2O2Se铁电半导体中电可切换的极化

研究背景

在以数据为中心的驱动下,高集成度的铁电电子元件被认为是半导体电子的前沿,可以满足新兴的功能多样化,如非易失性存储器、逻辑、人工大脑、神经形态传感器等。然而,大多数铁电体,如钙钛矿或聚偏氟乙烯,都是电子迁移率较差的宽带隙绝缘体,这对丰富的功能构成了挑战。尽管基于半导体/铁电异质结的器件概念提供了另一种选择,但器件的极化切换过程发生在铁电介质内部,本质上不利于器件简化、界面问题减少和沟道可控性。此外,在临界厚度以下的铁电体中存在介电/铁电不稳定性或消失,阻碍了其工业小型化走向基本物理极限。在这些方面,2D层状铁电半导体很有吸引力,其中极化切换发生在沟道材料本身,提供了一种新的材料平台,可以推动电子元件走向简单化和小型化。除了铁电性与半导体性的协同结合外,2D层状铁电半导体还具有许多其他有趣的特征,例如超薄的几何结构,没有悬键和易于集成。有趣的是,由于自发晶格畸变导致反演对称性被打破,半导体Bi2O2Se被发现具有室温铁电性。此外,在原子极限下,空气稳定的Bi2O2Se几乎具有所有诱人的半导体性,例如中等带隙(0.8 eV),高载流子迁移率和前所未有的光学灵敏度。然而,实现铁电半导体在功能电子领域的潜力,需要在器件级别操作上实现铁电性和半导体性之间的相互作用,这是目前缺乏的,因为Bi2O2Se的铁电性研究仍处于起步阶段。

成果介绍

有鉴于此,香港城市大学Johnny C. Ho等报道了一种室温2D层状铁电半导体Bi2O2Se,其厚度为7.3 nm(≈12层),压电系数(d33)为4.4±0.1 pm V-1。由于Bi2O2Se在室温下的结构对称性破缺,本文分别发现了偶极子的随机取向和电相关的极化。具体而言,本文研究了Bi2O2Se的铁电性与半导体性之间的相互作用,揭示了其迟滞行为和存储窗口(MW)的形成。利用来自Bi2O2Se的铁电极化,本文制备的器件具有“智能”光响应可调性和优异的电子特性,例如,在VGS=±5 V时,具有高的开/关电流比>104和扫描范围47%大MW。这些结果证明了Bi2O2Se中铁电性与半导体性的协同结合,为将传感、逻辑和存储功能集成到单个材料系统中奠定了基础,从而可以克服冯·诺依曼架构的瓶颈。文章以“Electrically Switchable Polarization in Bi2O2Se Ferroelectric Semiconductors”为题发表在顶级期刊Advanced Materials上。

Bi2O2Se铁电半导体中电可切换的极化研究背景在以数据为中心的驱动下,高集成度的铁电电子元件被认为是半导体电子的前沿,
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