天天看點

《Nat.Commun.》:二維範德華鐵電體萊斯大學的研究團隊使用納米束四維掃描透射電子顯微鏡(4D-STEM)技術,研

作者:e測試

《Nat. Commun.》:二維範德華鐵電體

萊斯大學的研究團隊使用納米束四維掃描透射電子顯微鏡(4D-STEM)技術,研究了二維範德華鐵電體SnSe的晶格畸變和堆疊資訊。結果表明,SnSe中的"T"形結區域具有獨特的晶格變形和FE-AFE堆疊轉變。這些發現為了解和控制範德華鐵電材料的相變、疇分布和疇切換提供了新思路,有助于開發高性能的存儲、傳感器和開關器件。

《Nat.Commun.》:二維範德華鐵電體萊斯大學的研究團隊使用納米束四維掃描透射電子顯微鏡(4D-STEM)技術,研
《Nat.Commun.》:二維範德華鐵電體萊斯大學的研究團隊使用納米束四維掃描透射電子顯微鏡(4D-STEM)技術,研
《Nat.Commun.》:二維範德華鐵電體萊斯大學的研究團隊使用納米束四維掃描透射電子顯微鏡(4D-STEM)技術,研
《Nat.Commun.》:二維範德華鐵電體萊斯大學的研究團隊使用納米束四維掃描透射電子顯微鏡(4D-STEM)技術,研
《Nat.Commun.》:二維範德華鐵電體萊斯大學的研究團隊使用納米束四維掃描透射電子顯微鏡(4D-STEM)技術,研

繼續閱讀