STC單片機按鍵掃描程式

最近在做一個電子秤相關項目，使用STC系列單片機作為主要晶片，項目第一階段直接使用IAP15W4K58S4驅動兩個矩陣鍵盤，一切調試順利，在項目即将結束時老闆要求使用另一塊單片機驅動矩陣鍵盤，讀取鍵值後通過序列槽傳回之前的IAP主要（理由是為了節省從矩陣鍵盤到主要闆之間的長排線的成本，16P+10P）；OK ，老闆發話了，還能說什麼呢，做呗，于是問題出現了。下面先簡單介紹矩陣鍵盤的檢測原理，然後說一說一些容易遇到的問題。

1.先簡單介紹下矩陣鍵盤的掃描原理

對于N*M的矩陣鍵盤（N>=M），我們在編寫程式的過程中，為提高掃描效率與降低程式的複雜程度，常設計N為列檢測，M為行掃描，對應于程式上的檢測輸入與掃描輸出。下圖為矩陣鍵盤的示意圖。

矩陣鍵盤示意圖

檢測原理：在上圖示意鍵盤中，規定豎向為列，即是P10，P11，P12，P13為列檢測；P14，P15，P16，P17為行掃描。沒有按鍵按下是，列檢測為到電平（一般為準雙向IO，弱上拉），行掃描為低電平輸出。當按鍵S5被按下後，P10與P15接通，P10由高電平變為低電平，單片機檢測到P10-P13有任何一位被拉低時，認為有按鍵按下，此時程式應記錄下哪一列按鍵被按下（得到按鍵的列坐标），然後按序拉高P14-P14，直到P10-P13全為初始狀态（高電平），此時拉高的行即為被按下的按鍵的行坐标。例如：S5被按下後，P10為0，得到列坐标為1，當P15拉高後，P10-P14均為1，得到行坐标為2，最後得到按鍵坐标為2行1列--S5。其他按鍵檢測原理相同。

單片機驅動掃描按鍵原理很簡單，但是在實際使用中對不同單片機的配置有要求，配置不當容易檢測到錯誤的鍵值。一下簡要說明幾個容易遇到的問題。

1.現在市面上的單片機IO基本都有4種标準模式（準雙向IO、推挽輸出、開漏輸出、高阻輸入）詳解見：（https://blog.csdn.net/jbh18401/article/details/76048843）。一般列檢測配置為準雙向IO，但準雙向IO的輸出為弱上拉啊，拉電流弱，抗幹擾性差，是以在列檢測IO外部，應外加上拉電阻（10-100K），一確定按鍵的穩定性。

2.在按鍵掃描的程式中，由于單片機程式執行速度快，在檢測按鍵行坐标時，拉高對應行後應适當延時，等待IO端口穩定後再檢測行輸入是否改變（程式如下）。若不加入延時，會導緻因IO還沒來得及完全拉高，列檢測程式已經執行完畢，最終導緻按鍵動作檢測不到或者誤檢。