别掉進矩陣按鍵掃描的坑！
P17-P14設定為輸入，并使能内部上拉電阻。
P13-P10 依次推挽輸出低(0)和輸出開漏(高阻狀态)輪詢切換，時序如附圖2所示。
以S1閉合為例，當程式運作到步驟1時，P13推挽輸出低，而P12-P10輸出開漏高阻。
此時，P17-P14讀取到的IO口狀态隻有P17為低，其它為内部上拉電阻産生的高邏輯。
附圖１的矩陣掃描電路隻适用于沒有組合按鍵，則所連接配接的S1-S16不存在同時按下或者閉合的情況。
當有同時按下的情況時，則可能出現按鍵誤檢測到接下的情況。
甚至如果P13-P10不是輸出開漏，會有損壞晶片情況發生。
比如，當S1和S2同時閉合時，如果在步驟１檢測之前，P13設定為推挽輸出低，而P12設定為推挽輸出高。
則P12輸出的高電平沿着紅色的線，經過S2和S1短路到P11端口輸出的地，造成處理器的損壞。
比如，當S1、S2、S5同時閉合時，
在步驟1，P13輸出推挽低，P12-P10輸出高阻，P17、P16檢測到低。
在步驟2，P12輸出推挽低，P13、P11、P10輸出高阻，預期結果隻能P17檢測到低。
但是，由于存在附圖4所示的P12->S2->S1->S5->P16的潛通路，使能P16也檢測到低，進而S6也被誤判為閉合。
