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用NI的資料采集卡實作簡單電子測試之5——壓控振蕩器的測試

本文通過對壓控振蕩器産生的連續波形的測試,展示了通過LabVIEW和資料采集卡,通過外部觸發進行連續資料采集的方法。

本文從本人的163部落格搬遷至此。

為了展示連續信号采集的方法,以其外部觸發采集功能。我用運算放大器實作了一個最簡單的低頻壓控振蕩器(VCO),作為USB-6009采集的信号源。在LabVIEW下編寫的應用軟體的控制下,USB-6009同時采集VCO産生的兩路模拟信号。在波形圖控件中可以比較、觀測兩路信号的幅度和相位關系。另外,本例還将涉及USB-6009的外部觸發采集功能的程式設計方法。

一、壓控振蕩器電路

壓控振蕩器是指輸出頻率是輸入電壓函數的振蕩器。我用運算放大器實作的低頻壓控振蕩器如下圖所示:

圖1 用運放實作的壓控振蕩器(VCO)

第一眼初看圖1所示的電路,初學者一般覺得比較複雜,難以下手分析。分析這樣的複雜電路,一種可行的方法是從其中簡單的部分入手:    

1、運算放大器OPS1A是一個電壓跟随器,其作用是降低左側可變電壓生成電路(由RS10、RS11、R_CTL和CS1構成)的輸出阻抗,進而提供控制頻率的電壓VCO。

2、運算放大器OPS2B用于構成隻會比較器。當其輸出高電平時,同相端的比較電壓在HALF_VCC(大小為VCC/2)到輸出高電平的1/3處;當其輸出低電平時,同相端的比較電壓在HALF_VCC到輸出低電平的1/3處。假設運放的輸出高低電平分别為VL和VH,其滞回區間在VL到VH的1/3到2/3之間。

3、OPS2B的輸出還控制了NPN半導體VN的開關狀态。當VN被打開時,由于運放OPS2A的同相端和反相端的虛短,兩端的電壓都必須為VCO/2(RS1和RS2均分了VCO的電壓)。是以必然有恒定的電流(VCO/RS4 - VCO/RS3)經過回報電容CS2流入電阻RS4,才能保證反相端的電壓恒定為VCO/2。在恒定電流的作用下,CS2右側的電壓将均勻上升到OPS2B構成的滞回比較器區間的上限——2/3高電平,此後滞回比較器将立即翻轉輸出低電平,并關閉半導體VN。此時同樣為使OPS2A的同相端和反相端“虛短”,必然有恒定的電流(VCO/2RS3)流入回報電容CS2。在此恒定電流的作用下,CS2右側的電壓将均勻下降到OPS2B構成的滞回比較器區間的下限——1/3高電平,此後滞回比較器将再次翻轉輸出高電平,并打開半導體VN回到初始狀态。

上述過程周而複始重複的結果是:

1、從AI6得到幅度為1/3~2/3*(VH-VL)的三角波,上升時間為:

t1 =C*U/I=CS2*(VH-VL)/3*(VCO/RS4 - VCO/RS3)

下降時間為:

t2 =C*U/I=CS2*(VH-VL)/3*( VCO/2RS3)

由以上兩式可知,三角波頻率與VCO電壓大小呈負線性關系。

2、從AI2得到的是幅度為VL至VH的方波,其頻率和相位與AI6輸出的三角波完全對應。

二、外部觸發電路

為示範USB-6009的外部觸發功能,使用滞回比較器輸出的AI2信号作為外部觸發信号源。但為防止USB-6009的觸發輸入引腳PFI0對壓控振蕩電路的影響(造成VN無法關閉),我在AI6後增加了一級由三極管構成的緩沖,如圖2所示。

用NI的資料采集卡實作簡單電子測試之5——壓控振蕩器的測試

圖2 資料采集的外部觸發緩沖電路

程式設計時應注意這級緩沖具有反相的作用。

三、測試程式

測試程式的編寫思路是:

1、以同樣的采樣率連續采集一段資料;

2、讀取這段資料,并将它們顯示在波形圖控件上;

3、延時一段固定時間,以便使用者看清波形,傳回第一步并重複。

程式框圖如圖3所示: 

用NI的資料采集卡實作簡單電子測試之5——壓控振蕩器的測試

圖3 采集并顯示壓控振蕩器的程式框圖 

對于外部觸發的采集,程式框圖如圖4所示:

用NI的資料采集卡實作簡單電子測試之5——壓控振蕩器的測試

圖4 使用外部觸發的采集程式框圖 

圖4中增加了DAQmax開始觸發(數字邊沿)函數來實作外部觸發輸入功能。

四、程式運作結果

打開圖3所示的測試程式,得到圖5所示的測試波形圖。

用NI的資料采集卡實作簡單電子測試之5——壓控振蕩器的測試

圖5 測試壓控振蕩器的結果

可以看到測試得到的三角波和方波的幅度、相位等參數,與上面理論分析得到的結果完全一緻。 還可以改變電位器R_CTL的阻值,觀測電壓控制頻率的現象。

未完待續……

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