24V低壓檢測電路 - 低壓檢測電壓（轉）

24V低壓檢測電路 - 低壓檢測電壓

參考：

ADC采樣工作原理詳解

使用單片機的ADC采集電阻的分壓

問題：

當ADC采集兩個電阻分壓後的電壓的時候，ADC轉換出來的電壓值和萬用表量出來的不一樣差異還挺大，但隻要在采集點和GND之間跨接一個小電容（比如0.1uf）就解決問題了。這是啥原理？

N1：

分壓電阻的輸出阻抗太高；

ADC的采樣時間太短。

N2：

MCU的ADC，輸入首先是一個采樣電路，等效一個電子開關、串聯電阻、采樣保持的負載電容。

在采樣時間内，外部信号源，信号源内阻，采樣電阻内阻，對采樣電容充電。

要采樣準确，需要采樣時間足夠，内阻R和C的時間常數足夠小。

要麼加大采樣時間，要麼減少内阻。

如果在信号源（分壓電阻處）上并聯電容，相當于減少了信号源的内阻。

N3：

分壓後電壓，最高不能超過參考電壓，最好又靠近參考電壓，比如70-90%，以提高精度。一般MCU的ADC輸入要求信号源内阻小于10K，降低信号源的内阻。對于功耗有要求的，比如分壓電阻幾百K到1M的，必須要要加電容，降低ADC誤差。

N4：

并非加電容就是“濾波”，此處電容的作用主要是：讓ADC在采樣時可以由外部電容提供足夠的電荷“瞬間”轉移到内部的采樣電容上。

若“濾波”，通常是為了防止混疊。